差熱實(shí)驗(yàn)裝置/差熱實(shí)驗(yàn)儀 型號：DP-ZCR

本裝置采用單片機(jī)程序控溫。測量參比物和物質(zhì)在物理或化學(xué)作用下所產(chǎn)生的熱效應(yīng)（吸熱或放熱）以及相對溫度變化（DTA）。

裝置組成及特點(diǎn)：

* DP-ZCR差熱實(shí)驗(yàn)儀

* 差熱實(shí)驗(yàn)爐

1、溫度范圍：室溫～1100℃

2、溫度分辨率：0.1℃

3、控溫速率：1～20℃/min

4、程序方式：微型處理器程序控制PID

5、DTA分辨率：1uV

6、DTA量程：0～2000uV（不分檔）

7、DSC方式：數(shù)據(jù)、曲線解析

8、DSC范圍：1mW～±100mW

9、DSC解析度：10uW

10、輸出方式：計算機(jī)、打印機(jī)系統(tǒng)